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      “效鋒講堂”透射電鏡系列講座 第三講:像差校正電鏡

      主講人:章效鋒 日立高新技術公司 開始時間:2019/04/23 10:00
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      此課程屬于系列課程
      “效鋒講堂”透射電鏡系列講座
      共 3 講 | 主講人:章效鋒博士 前往了解詳情

      課程詳情

      課程描述:

       




       


      成像分辨率是顯微鏡的核心,而提高分辨率的兩大障礙是衍射效應和透鏡像差。對透射電鏡分辨率的不懈追求持續了長達半個多世紀,最終導致了像差校正電鏡的誕生,一舉將透射電鏡的可直接利用分辨率推至亞埃量級。本講座將對透射電鏡中存在的透鏡像差及像差校正的不同方法給與概括介紹,同時講解像差校正電鏡及其應用優勢。

      講師簡介:

      章效鋒博士,具有超過20年利用前沿電子顯微術對超導材料、納米材料、薄膜材料、陶瓷材料、半導體材料、以及合金材料的結構及成份進行定量分析的經驗;對于材料科學中物質的合成-結構-物性間的關聯性具有廣泛的研究。自2006年起受聘擔任日立高新技術公司電子顯微鏡研發資深經理及透射電鏡全球專家,主要工作包括電子顯微鏡技術及產品的研發、改進、推廣,高端電鏡產品市場的培養和技術支持。

      相關領域:

      (儀器儀表)-(儀器儀表)

      相關儀器:

      (光學儀器及設備)-(電子顯微鏡)-(透射電子顯微鏡(透射電鏡、TEM))

      參會說明

      參會條件:

      • 1、免費報名無需任何差旅費用只需要一臺電腦或一部手機,網絡帶寬超過128K。
      • 2、報告專家PPT講解將實時傳送給所有參會者,參會者也可通過文字向報告人提問,報告人在報告結束后統一進行解答。

      參會方式:

      • 1、報名參會并通過審核后,您將會收到郵件通知,并在會前一天收到提醒參會的短信通知。
      • 2、會議當天進入儀器信息網網絡講堂首頁(webinar.instrument.com.cn),點擊“進入會場”,填寫報名時手機號,即可登錄會場參會。

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