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      • 物性測試儀器及設備

      新品 HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀

      核心參數

      • 產地類別 進口
      • 測量時間2min
      • 分辨率
      • 測量范圍0.3nm ~ 10μm
      • 重現性+-2%
      • 分散方式 濕法分散
      • 儀器種類 動態光散射

      HORIBA 科學儀器事業部

      • 營業執照已審核
      • 品牌性質生產商
      • 白金會員第18年
      • 信用積分4251
      • 反饋速度21-24小時
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      HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀 創新點 產品介紹 相關資料 相關新聞 用戶評論

      創新點

      SZ-100 V2采用動態光散射測量顆粒粒徑,SZ-100V2采用綠色激光光源,能獲得比紅色激光更強的信號強度。它具有雙角度檢測器,能滿足不同濃度樣品的測試需求,PD檢測器可檢測樣品濃度,從而選擇最合適的檢測器。SZ-100 V2對粒徑的測量范圍在0.3納米到10微米。SZ-100 V2 對Zeta電位的測量范圍在-500mV到500mV。Zeta電位可判斷樣品的穩定性,對配方研究工作意義重大。此外可配置pH自動滴定儀,獲得樣品的等電點。SZ-100V2對分子量的測量范圍在1000到2000萬之間。儀器廣泛應用于金屬材料、高分子材料、碳納米管、蛋白質等生物樣品的測量分析。

      上市時間:2018年10月

      產品介紹

      SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準確測量小顆粒物理性質的分析工具,如顆粒粒徑、zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(A2)的測定;還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。


      SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。


      產品特點


      ·  同臺儀器可測三種參數——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數

      ·  寬檢測范圍,寬濃度范圍——樣品濃度可達40%

      ·  自動滴定儀——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

      ·  軟件操作簡單功能強大,一鍵測量

      ·  雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)

      ·  采用微量樣品池


      技術參數


      粒徑測量原理:動態光散射法(光子相關光譜法)

      粒徑測定范圍:0.3nm ~10μm

      粒徑測量精度:±2%(NIST 可溯源標準粒子100nm)

      Zeta 電位測量原理:激光多普勒電泳法

      Zeta 電位測量范圍:-500 mV ~ +500 mV

      分子量測量原理:Debye plot

      分子量測量范圍:1000 ~ 2×107 Da

      測量角度:90° 和173°(可自動或手動選擇)

      樣品量:12μL ~ 1000μL

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